japansensor溫度計在硅單晶上拉裝置溫度控制上的運用

在坩堝中熔化多晶硅時的溫度控制，以及晶種后旋轉時的溫度控制。

從提升設備的視口進行溫度測量。

客戶的要求

我們希望通過準確捕獲熔化溫度來捕獲晶體起始點。

在許多情況下，測量距離相對較長，但目標尺寸需要相當小。 換句話說，需要長距離和小光斑類型。

由于環(huán)境溫度很高，因此耐熱溫度高就更好了。

客戶的要求

我們希望通過準確捕獲熔化溫度來捕獲晶體起始點。

在許多情況下，測量距離相對較長，但目標尺寸需要相當小。 換句話說，需要長距離和小光斑類型。

由于環(huán)境溫度很高，因此耐熱溫度高就更好了。

相關產品運用

• 1ms光纖型半階型，可在惡劣環(huán)境和狹窄空間內自由使用

• 

  光纖型輻射溫度計FTKX系列

  測量溫度范圍：100°C ～ 2000°C

• 纖維類型（耐熱性和耐磁場性）

• 高溫

• 用于石英

• 0.1ms/1ms快速響應

• 用于金屬

• 1ms輻射溫度計，其規(guī)格可根據要測量的對象而改變

  

  無纖型輻射溫度計FLHX系列

  測量溫度范圍：90°C ～ 2000°C

• 高溫

• 用于石英

• 0.1ms/1ms快速響應

• 用于金屬